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雙折射應力測試設備WPA係列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶體製造技術開發的產品，的測量技術使其成為的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的多功能機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

WPA係列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶體技術，開發的一款適用性高的應力雙折射檢測設備，可測量相位差（光程差）高達3500nm，Photonic lattice應力雙折射儀WPA-200L適合注塑成型的透光器件的應力雙折射檢測，數秒給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息。

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內應力測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA係列測量雙折射測量範圍達0-130nm，可以測量的樣品範圍從幾個毫米到近500毫米。PA係列麻豆99一区二区在线观看以其技術的光子晶體偏光陣列片，高精度同步協調的雙折射算法設計製造，得到每片樣品僅需幾秒鍾的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

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麻豆99一区二区在线观看PA-Micro操作簡單，測量速度可以快到3秒。更直觀的全麵讀取數據，無遺漏數據點。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。高達2056x2464像素的偏振相機。