雙折射應力測試設備WPA係列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其光子晶體製造技術開發的產品，的測量技術使其成為的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的多功能機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

Name: 雙折射應力測試設備
Brand: 其他品牌
Price: 1000 CNY
Availability: InStock

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更新時間：2026-01-16

廠商性質：代理商

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WPA係列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其的光子晶體製造技術開發的產品，高精度的測量技術，使其成為專業級的光學測量產品。

雙折射應力測試設備在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的多功能機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

雙折射應力測試設備WPA-200主要特點:

主要應用：

· 光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

· 透明成型品（車載透明零件、食用品容器）

· 透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

· 透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鑽石）

· 有機材料（球晶、FishEve）

技術參數：

項次	項目	具體參數
1	輸出項目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】

2	測量波長	523nm、543nm、575nm

3	雙折射測量範圍	0-3500nm

4	測量小分辨率	0.001nm

5	測量重複精度	<0.1nm（西格瑪）

6	視野尺寸	218x290mm-360×480mm（標準）

7	選配鏡頭視野	無選配

8	選配功能	實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控製，CD模式