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PHL 應力雙折射檢測儀PA係列由日本Photonic lattice公司開發，具備高精度和快速測量的特點。 該設備采用光子晶體偏光陣列片和獨特的雙折射算法，能在幾秒內完成從毫米級到接近500毫米樣品的雙折射測量，測量範圍為0-130nm。 其特點包括操作簡便、視野廣闊、無需旋轉光學濾片，並配備高像素偏振相機。 適用於光學鏡片、智能手機玻璃基板及藍寶石等材料的測量，支持多種分析功能和外部控製

應力雙折射測量係統WPA-200-MT是Z業用於手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應力雙折射測量設備。鏡片的雙折射現象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機所使用的鏡片需要高解析度，因此需要減少雙折射的影響，了解鏡片的雙折射的大小，是鏡片生產過程中關鍵質控的，WPA-200-MT正符合這樣的需求，並能高速完成各項測量。

應力雙折射檢測係統PA300和PA300-L是Photonic lattic公司以其Lxian世界的光子晶體製造技術開發的產品，高精度的測量技術，高速而又的測量3D玻璃，晶體等產品的雙折射效應，得出的相位差數值，從而量化出產品應力數值，在測量過程中可以對視野範圍內樣品一次測量，全麵掌握應力分布。廣泛應用於手機3D玻璃的研發，生產，質量測試中。

WPA係列是Photoniclattice公司采用自研的光子晶體技術，開發的一款適用性高的應力雙折射檢測設備，可測量相位差（光程差）高達3500nm，Photonic lattice應力雙折射解決方案WPA-200L適合注塑成型的透光器件的應力雙折射檢測，數秒給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息。

WPA係列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶體技術，開發的一款適用性高的應力雙折射檢測設備，可測量相位差（光程差）高達3500nm，Photonic lattice雙折射分析儀WPA-200L適合注塑成型的透光器件的應力雙折射檢測，數秒給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息。

光學應力分析儀WPA-NIR硫係，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘餘應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研製了WPA-NIR麻豆99一区二区在线观看，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘餘應力分布。